TH系列 科文厂家半导体高低温湿热老化测试箱

< 用途 >

TH系列 科文厂家半导体高低温湿热老化测试箱广泛用于电工、电子、航天、航空、仪器仪表等行作、材料、零部件设备等的加速湿热试验，交变温度试验，以便对试品在给定的环境条件下的行为性能作出评价。

TH系列 科文厂家半导体高低温湿热老化测试箱< 特点 >

●人机对话式触摸屏输入系统，操作简单易学，功能强大，并可于LCD画面上了解程式设定之曲线及监测过程；

●可设定程式120组，1200段，循环次数可达999次，每段时间可设定99小时59分；

●具有RS232通信接口，可通过PC随意控制和监视，还可选配RS485接口，USB曲线记录和数据储存装置,使用便捷；

●具有9组PID参数调节，以达到稳定、之控制；

●具有程式修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键定等功能；

●具有多种报功能，故障发生同时，可通过荧幕故障显示，消除故障；

●独特送风循环设计，温湿度分布均匀性佳；

●具有自动防霜装置的真空双重玻璃，可清晰观察试验箱内的试品；

●前置式自动进水装置，方便增加加湿水。

  TH系列 科文厂家半导体高低温湿热老化测试箱设备特点

设备通过温湿传感器精确测及工可编程控制器控制，可实现温湿度检定箱内湿度的自动调节，湿度检定数据处理和结果的打印。具有很高的控制与测试精度，可提供持续，重复性的湿度测。

半导体高低温交变湿热试验箱

温度控制
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用的制冷控制模式，可以0%~自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用知名产品，使设备的整体得到了提升和保；

TH系列 科文厂家半导体高低温湿热老化测试箱设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Db：交变湿热（12h + 12h循环）
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB 150.9A-2009 装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验