T-TRACKCS三维数字化扫描检测系统光学三维扫描仪

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概述：

性价比高，位的新型解决方案

德国STEINBICHLER光电技术有限公司新推出的T-TRACK CS三维光学跟踪扫描仪性价比高，应用广泛。其价格低廉，即便是低端市场的用户,也可承受得起此款采用新技术设计的产品。

灵活，集成担块化设计

多年来，德国STEINBICHLER 光电技术有限公司作为光学三维测,扫描领域的，具有丰富的行经验。如今，凭借新款T-TRACK CS三维光学跟踪仪，更是创立了新的行水准。采用模块化设计，可满足用户的个性化应用需求。例如：与新款手持式激光扫描仪T-SCAN CS组合使用，可对各种尺寸的被测件进行高效，精确地三维表面测；与接触式探扫描仪 T-PROBE CS组合使用，可快速，简便地进行单点测；采用跟踪活动的红外线标记点的方式，可进行动态测与分析（动态参考与动态获取）。通过与各种测元件的化/组合使用，开拓了更广泛的应用范围。此款的一体化的解决方案给用户带来了更多的便利与实惠。

创新的移动使用功能

可用普通相机支架的T-TRACK CS 三维光学跟踪仪坚固耐用，适用于工化生产环境。跟踪元件结构紧凑，设置，安装只需短短几分钟；控制器箱采用统一布线，操作简便，适应移动使用。数据处理速度快，整个测/扫描时间短。

应用领域：

规格：