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7800型贵金属检测仪

硬件独特性:

严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高，性能好，寿命长；全新32位软硬件系统，工作可靠，；配备高清晰的摄像系统，测更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具。

EXF7800在EXF7200的平台上集成工级计算机，升级了显示屏幕和电路结构，无需再外接电脑；造型，带多节点预启动装置和实时监控系统；带门电，使得日常管理更便捷；加装自动防辐射泄漏装置，主动性的保使用人员安全；带电动开盖装置，令测试更轻松。

激发源：Mo靶的X光管风冷(无辐射）

测点尺寸：1～2mm

样品室:长400 mm×宽: 300mm×高: 0～90 mm样品放大成像系统

软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算

计算机：选择配置

检测器：固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路

其它规格：

   电压:100～127或200～240V,50/60 Hz

   大功率:120W

   大处尺寸:500mm*500mm*400mm

   重:48kg

技术指标

   分析范围：1%～99.99%

   测时间：自适应

   测精度：±0.1%

   测试环境：常温常态

   分析元素：Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd﹑W

   X射线源：X射线光管

   高压器：4～50Kv

   分析：多通道模拟

   操作系统:Windows2000/Me/XP

镀层测：

   镀层厚度范围>>>>>