法国Phasics公司

产品信息

Phasics横向剪切波前分析仪

所属类别： » 光学/激光测设备 » 波前分析仪
所属：法国Phasics公司

产品简介

于四波横向剪切干涉技术的波前传感器，具有高分辨率、消差、高灵敏度、高动态范围、操作简便等特点。

关键词：波前探测器，波前分析仪，波前传感器，wave front sensor，波前测试，激光光束分析，镜片面型分析，Phasics，法国Phasics公司，Shack-Hartmann，沙克哈特曼分析仪，哈特曼分析仪

Phasics波前分析仪

法国Phasics公司自主研发的波前传感器是于四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry) ，较传统的Shack-Hartmann技术具有独特的势，具有高分辨率、消差、高灵敏度、高动态范围、操作简便等特点，为波前测与光束分析提供了全新的解决方案！其配套软件界面友好，可输出高分辨率相位图与光束强度分布图 。 

Phasics雄厚的技术实力，能为客户提供各种自适应光学系统OASys(adaptive optics loops)的解决方案。根据客户需求，推荐使用合适的SID4波前传感器、可变形镜或液晶相位调制器、自适应光学系统软件等。

Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测利技术之上，即四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在改进型哈特曼掩模的础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测。

 

型号	SID4	SID4-HR	SID4 UV-HR	SID4 NIR	SID4 DWIR	SID4-SWIR
径	3.6 x4.8mm2	8.9 x11.8mm2	8.0 x8.0mm2	3.6x4.8mm2	13.44x10.08mm2	9.6x7.68mm2
空间分辨率	29.6µm	29.6µm	32µm	29.6µm	140µm	120µm
测点数	160x120	300x400	250x250	160x120	96x72	80X64
波长范围	350-1100nm	350-1100nm	190-400nm	1.5-1.6µm	3-5µm和8-14µm	0.9- 1.7µm
准确度	10nm RMS	10nm RMS	10nm RMS	>15nm RMS	75nm RMS	10nm RMS
动态范围	>100µm	>500µm	>200um	>100µm	/	~100µm
采集速度	60 fps	10 fps	30 fps	60 fps	50 fps	25/30/50/60fps
处理速度	>10fps	>3 fps	1fps	<10fps	20 Hz	>10Hz

 

SID4: 紧凑型的波前传感器

SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的势，安装使用简单。我们的势在于四波横向剪切干涉技术（于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测光束特性的必要工具，在光学测方面有着许多应用。

波长范围：350-1100nm

分辨率高（160x120）

消差

测稳定性高

对震动不敏感

操作简单，Firewire IEEE 1394

结构紧凑，体积小

可用笔记本电脑控制

 

 

SID4 HR:高分辨率波前传感器

SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测领域。其可实现300x400个测点的相位图，保了高精度测，可用于对各种光学器件的测，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测等。

波长范围：350-1100nm

高性能的相机，信噪比高

实时测，立即给出整个物体表面的信息（120000个测点）

曝光时间极短,保动态物体测

操作简单

 

 

SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器

PHASICS公司将 SID4的波前测波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。

高分辨率（250x250）

通光径大（8.0mmx8.0mm）

覆盖紫外光谱

灵敏度高（0.5um）

化信噪比

 

 

SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器

SID4 NIR是覆盖近红外范围（1.5µm-1.6µm）的高分辨率波前传感器。

可用于光学测，SID4 NIR是测红外物体和红外透镜像差、P、MTF和焦距及表面的理想工具。

高分辨率（160x120）

测

快速测

对振动不敏感

性价比高

 

 

SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器 

PHASICS推出了界款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 µm to 5 µm and from 8 µm to 14 µm)SID4 DWIR

光学测：SID4 DWIR是测红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，P，像差，表面和透镜焦距。

光束测：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等

高分辨率（96x72）

可实现测

可覆盖中红外和远红外波段

大数值径测，无需额外中转透镜

快速测

对振动不敏感

可实现离轴测

性价比高

 

 

 

SID4软件介绍

 

 

与SID4 波前传感器配套提供的是完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测与编译模块。

 

adaptive optics loops将SID4 wavefront sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。

 

传统的测结果与Phasics的测结果对比：

 

 

光学测软件Kaleo

Phasics于剪切干涉的波前传感器与门设计的光学测软件Kaleo结合，可以测球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，P等。

 

 

夏克-哈特曼探测器和PHASICS探测器比较 

 

	PHASICS	Shack-Hartmann	区别
技术	四波横向剪切干涉	夏克-哈特曼	是对夏克-哈特曼技术的改进，投放市场时，已经申请技术利。
重建方式	傅里叶变换	分区方法（直接数值积分）或模式法（多项式拟合）	SH：夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似。对于大径的透镜单元，可能会增加误差，并且，在某些情况下，产生严重影响。 在分区方法中，边界条件很重要。
强度	由于采用傅里叶变换方法，测对强度变化不敏感	由于需要测焦点位置，测对强度变化灵敏	Phasics：测精度，波前测不依赖于强度水平
使用、对准方便	界面直观，利用进行对准	安装困难，需要精密的调节台	Phasics： 产品使用方便
取样（测点）	SID4-HR达300X400测点	128X128测点（多个微透镜）	Phasics：具有很高的分辨率，这使得测更可靠，也更稳定
数值径	SID4 HR  NA：0.5	NA：0.1	Phasics：动态范围更高
空间分辨率	29.6μm	115μm	Phasics：具有更好的空间分辨率
重复性（rms）	2nm RMS	λ/200( 5nm @1053 nm)	Phasics：更好的重复率，更稳定
获取频率	10fps	7.5fps	Phasics：分析速度快
处理频率	>3Hz（全分辨率）	5Hz
照度	phasics的技术可以消差。系统对不同波长和带宽响应一致。无需对每个波长进行校准。	夏克-哈特曼技术于微透镜，其特性依赖于波长（由于玻璃散）。仪器需要在每个波长处校正。	PHASICS更灵活：可以测试宽波段，而不需要校准。

 

分享到 :   人人网 腾讯微博 新浪微博 搜狐微博 网易微博
相关产品 ALPAO 可变形镜 XY系列向列液晶空间光调制器 Alpao自适应光学系统 XY系列铁电液晶空间光调制器 1x12,288线阵相位型液晶调制器