深圳STT低温测试 低温试验标准 控制器低温运行试验报告

低温试验

1、测试范围：

电子元件、医辽用品、生物制品、远洋制品、化工材料等等。

2、项目介绍：

产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。低温试验的目的是检验试件能否在的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。

3、参考标准：

GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》 
IEC 60068-2-1:2007《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》 
GJB150.4A-2009《军用设备环境试验方法 低温试验》 

GJB4.3-83 《舰船电子设备环境试验 低温试验》 

QC/T 413-2002《汽车电气设备基本技术条件》

等等...

深圳市赛特检测有限公司（STT）是第三方检测与验证服务的开拓者和者，拥有CNAS，CMA资，可依照IEC、、IEEE、MIL、ASTM、GJB、GB、SJ等、国内标准，为企提供环境可靠性、机械环境可靠性、物理性能测试、材料成分分析、包装运输等等测试服务，STT提供的检测报告公正、科学、准确、高效，与所有成员国达成互认。

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