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高多功能的高端半导体测试设备

高多功能的高端半导体测试设备

产品详情

概述

EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制,达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下,这些源与条件负载按照条件准确的连接,其中包含了大的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路


系统规格及技术指标

主极电压: 1mV-2000V

电压分辨率: 1mV

主极电流: 0.1nA-50A

扩展电流: 100A

电流分辨率: 0.1nA

测试精度: 0.2%+2LSB

测试速度: 0.5mS/参数

工作温度: 25℃--40℃

工作湿度: 45%--80%

贮存湿度: 10%--90%

工作电压: 200v--240v

电源频率: 47HZ--63HZ

通信接口: RS232 USB

系统功耗: <150w

设备尺寸: 450mm×570mm×280mm

35KG


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