介电常数介质损耗测试仪

介电常数介损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介损耗因数的推荐方法一、介电常数介损耗试验仪概述GDAT高频 Q 表作为新一代的通用、多用途、多程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 自动化测技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测。 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、源频率、谐振指。 DDS 数字直接合成的源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测提供了的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造提供了更为方便的检测工具，测值更为精确，测效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品，无须关注程和换算单位。 一